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【matlab】主瓣、柵瓣和旁瓣(MATLAB原始碼+解釋)



天線方向圖

一、雷達天線

雷達天線可用方向增益、功率增益和有效孔徑三個引數來表徵。在歸一化的時候,功率增益圖和方向圖統稱為天線輻射方向圖。 發射天線的方向性可定義為:最大輻射密度/平均輻射密度,孔徑效率越高越高,理想情況下要求其值等於1. 一般陣列天線都由兩個或多個基本輻射源構成,也即是合成天線。每一個輻射源稱作一個陣元。採用電子掃描方式的陣列就是所謂的相控陣,這在軍艦上尤為常見,因為電子掃描可以控制饋送給陣元的電流相位,其靈活性和特殊的多功能雷達用途使得其比較熱門,所以儘管相控陣搞起來花錢多,設計複雜,卻依然是某些特殊場合下(你懂得,不懂的到網上搜)的首選

二、陣列因子

一般情況下,已下陣列因子可以完全表徵一個陣列。
(1)3db頻寬  (2)零值頻寬 (3)主峰至第一旁瓣距離 (4)第一旁瓣/主瓣 (5)零點位置 (6)柵瓣位置

三、主瓣、旁瓣

1. 最大輻射波束叫做主瓣,主瓣旁邊的小波束叫做旁瓣 2. 方向圖通常都有兩個或多個瓣,其中輻射強度最大的瓣稱為主瓣,其餘的瓣稱為副瓣或旁瓣,與主瓣相反方向上的旁瓣叫後瓣 3. 在主瓣最大輻射方向兩側,輻射強度降低 3 dB(功率密度降低一半)的兩點間的夾角定義為波瓣寬度(又稱波束寬度主瓣寬度半功率角)。 4. 波瓣寬度越窄,方向性越好,作用距離越遠,抗干擾能力越強。 5. 旁瓣使聲能量擴散,衰減增多。 目前減少旁瓣的最簡單的方法是:減少物體的尺寸,使其小於或者等於波長的一半,此時將不會產生旁瓣效應。[1]

四、MATLAB Code(little change)

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eps = 0.00001;
%這裡普及一下eps的概念
<span>%eps是一個函式。當沒有引數時預設引數是1.返回的是該引數的精度。
%也就是說單個的eps實際上是eps(1),表示的是1的精度。
%這裡要說一下精度的概念。浮點數所能表示的數值範圍是很大的,但是浮點數不是無限的,連續的和稠密的;</span>
<span>&而是有限的,離散的和稀疏的,而且每個數的精度都不一樣。越是靠近0,精度越高,反之則越低。</span>
<span>%eps返回的是1的精度。指的是1和離他最近的浮點數之間的距離。
%我們輸入eps可以看到1的精度。
%也就是說離他最近的浮點數和他相差eps(1)。我們可以計算1+eps,他就是離1最近的浮點數。
%如果我們計算出的數介於這兩者之間,系統就會自動把它舍入到離他最近的數。</span>
<span>1+eps*3/5離1+eps近,</span><span>所以1+eps*3/5≈1+eps;</span>
<span>1+eps*2/5離1近,所以1+eps*2/5≈1,而1+eps/2在正當中,系統自動把它舍入到1,即1+eps/2≈1
%如果我們輸入eps(2)可以看到2的精度,它只有1的精度的一半。即eps(2)=eps*2
%因此係統會認為2+eps≈2,而2+eps*6/5≈2+eps*2=2+eps(2)</span> 
k = 2*pi;%周期函式週期
theta = -pi : pi / 10791 : pi;%設定範圍大小
var = sin(theta);
%Matlab 函式var定義:均方差;
  Matlab 函式var功能:var函式實際上求的並不是方差,而是誤差理論中“有限次測量資料的標準偏差的估計值”;
  Matlab 函式var應用:
  X=[1,2,3,4]
  var(X)=1.6667 
nelements = 8;%元素個數
d = 1;         %  d = 1;
num = sin((nelements * k * d * 0.5) .* var);

if(abs(num) <= eps)
   num = eps;
end
den = sin((k* d * 0.5) .* var);
if(abs(den) <= eps)
   den = eps;
end

pattern = abs(num ./ den);
maxval = max(pattern);
pattern = pattern ./ maxval;


figure(1)%陣列方向圖
theta = theta +pi/2;%留下小思索,自己想想為什麼要加pi/2
polar(theta,pattern)
title ('陣列方向圖')

figure(2)%功率方向圖
polardb(theta,pattern)
title ('功率方向圖')

舉例

使用相控陣探頭會產生的一個現象是會生成不希望出現的柵瓣和旁瓣。

出現柵瓣和旁瓣這兩個緊密相關的現象是由於探頭髮出的部分聲能以不同於主聲程的角度傳播造成的。

這種現象不僅限於相控陣系統,在使用常規探頭時,隨著晶片大小的增加也會出現旁瓣現象。

這些不希望出現的聲波會從被測工件的表面反射,並會使影象中出現虛假缺陷指示。

晶片間距、晶片數量、頻率和頻寬都會對柵瓣的波幅有很大的影響。

下面的聲束圖比較了兩種聲束形狀:

在探頭孔徑近似的情況下,左圖中的聲束由間距為0.4毫米的6個晶片生成,右圖中的聲束由間距為1毫米的3個晶片生成。

左側圖中的聲束形狀類似錐形;右側圖中的聲束在其中心軸兩側約30度方向上生出兩個多餘的波瓣。

只要陣列中單個晶片的尺寸等於或大於波長,就會產生柵瓣。

當晶片尺寸小於波長的一半時,不會產生柵瓣。(晶片尺寸在半個波長和一個波長之間時,是否產生柵瓣取決於電子偏轉的角度。)

 因此在某項具體應用中使柵瓣最小化的最簡單的方法是使用小晶片間距的探頭。

使用特別設計的探頭,如:將大晶片分割為較小的晶片,或改變晶片間距,也可以減少不需要的波瓣。